La Metrología y la Luz en la Industria

20 de mayo de 2015

Centro Español de Metrología
C/ Alfar, 2 Salón de Actos del CEM
Tres Cantos. Madrid



8:30

Visita a los laboratorios del Centro Español de Metrología - CEM

  • Opción A: Longitud, Masa, Sonómetros
  • Opción B: Electricidad, Temperatura, Etilómetros
  • Opción C: Radares, Fuerza/Par y Presión

10:00

Bienvenida al  Día Mundial de la Metrología:  Breve recordatorio de la efeméride
D. Fernando Ferrer Margalef. Centro español de Metrología (CEM)
Dña. Marta Villanueva Fernández. Asociación Española para la Calidad (AEC)

 

Modera la 1ª mesa de trabajo: D. José Ángel Robles Carbonell     

10:20

Espectros de acción y curvas de eficiencia. ¿Hacia nuevas unidades?”
El campo de la medida de la radiación ultravioleta atmosférica está plagado de dificultades en su nomenclatura. Los problemas son consecuencia de: a) la fuerte dependencia de la radiación UV recibida en la superficie de la Tierra con la longitud de onda, b) la heterogeneidad de los grupos de investigación que se ocupan de este tema y c) el uso incorrecto de unidades.
Dña. Alicia Pons Aglio.   Instituto de Óptica “Daza de Valdés” - CSIC      

10:40

Sistemas para la colimación de haces de luz
La colimación de los haces de luz son de gran importancia en numerosas aplicaciones y dispositivos industriales. Se presentan nuevas técnicas de gran precisión para la colimación de haces basadas en redes de difracción. Los resultados obtenidos permiten mejorar significativamente las técnicas actuales.
D. Luis Miguel Sánchez Brea. Departamento de Óptica de la Facultad de CC Físicas de la UCM

11:00

Pausa y Café 

 

 

Modera la 2ª mesa de trabajo: D. Fernando Alfageme Fuertes

11:40

La ruta de la trazabilidad metrológica 
La trazabilidad metrológica es uno de los pilares para que los resultados de medida sean comparables entre sí, independientemente del lugar y tiempo en que se hayan realizado, facilitando su aceptación universal y reduciendo las potenciales barreras técnicas al comercio. Tener claro el concepto y conocer la ruta de trazabilidad metrológica  puede simplificar la actividad de laboratorios e industrias.
D. José Luis Borrego Nadal.  Entidad Nacional de Acreditación (ENAC)  

12:00

El presente de la Geomática: Terrestrial Laser Scanner (TLS). Aplicaciones ilimitadas, control metrológico limitado
Los equipos TLS constituyen una potente herramienta geomática en la captura de datos espaciales. Lo que empezó siendo una herramienta exclusiva y poco amigable, se ha convertido en un elemento imprescindible en campos tan diversos como la ingeniería y arquitectura, la documentación del patrimonio cultural e, incluso, la investigación forense. Sin embargo, el control metrológico de estos equipos no está totalmente resuelto.
Dña. Teresa Fernández Pareja. ETSI Topografía, Geodesia y Cartografía (UPM)

12:20

Caracterización de patrones 2D por interferometría diferencial en el CEM
Presentación del nuevo sistema de calibración de patrones 2D (reglas a trazos y retículos) del CEM, llamado a sustituir al actual, de posicionamiento manual y medición en un único eje. Con un campo de medida de (100 x 100) mm, empleando unidades de traslación y giro motorizadas, y combinando interferometría diferencial, microscopía óptica y un sistema de adquisición y procesado de imágenes, el sistema, totalmente automático, busca alcanzar una incertidumbre típica de medida del orden de 15 nm.
D. Eloy Pérez-Enciso - Tritón Sistemas Experimentales, S.L.
Dña. Mª Mar Pérez Hernández - Responsable Lab. Primario de Longitud, CEM

12:40

¿Cómo utiliza la LUZ el sistema REVO para avanzar en la medición dimensional?
REVO – un cabezal de adquisición de datos para Máquinas de Medir por Coordenadas, capaz de apoyarse en la luz LASER para proporcionar datos geométricos a una veloidad elevada y a la vez mantener, para estos, una franja de incertidumbre óptima. El software de medición geométrica – MODUS es capaz de controlar 5 ejes: 3 de la máquina de medir y dos del cabezal REVO, para mantener contacto continuo de la sonda de exploración con formas complejas, proporcionando datos fiables para procesos de medición o reingenierí.
D. Traian Onaciu. Renishaw

13:00

 La micra también existe”  
Como ejemplo de tecnologías de medición por escaneado láser en la industria, se presentarán dos equipos de última generación que aportan exactitudes de medida micrométricas, los equipos laser Tracker Leica AT960 y la maquina tridimensional DEA GLOBAL
  D. Armando Merlo. Hexagon     

13:20

Coloquio y reflexiones

14:00

Fin de la Jornada


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AEC CEM

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