Día Mundial de la Metrología y 7º Seminario Intercongresos 2016

Día Mundial de la Metrología y 7º Seminario Intercongresos 2016

“Las medidas en un mundo dinámico”

📅 Celebrado el 20 de mayo de 2016
📍 Centro Español de Metrología (CEM)

Evento ya celebrado

El Centro Español de Metrología y la Asociación Española para la Calidad conmemoraron el Día Mundial de la Metrología con un seminario técnico centrado en el papel de las medidas en un mundo en constante evolución. Bajo el lema “Las medidas en un mundo dinámico”, se abordaron los retos de la metrología en la era de la Industria 4.0.

Objetivo del evento

Mostrar cómo la metrología contribuye a afrontar los desafíos de un entorno global dinámico, especialmente en áreas como:
  • Innovación tecnológica
  • Fabricación avanzada
  • Comercio internacional
  • Diagnóstico y monitorización
  • Calidad de vida y sostenibilidad

Contenidos destacados y ponencias disponibles

A continuación se presentan las ponencias impartidas durante el evento. Puedes acceder a cada una mediante los enlaces:

🔹 El papel de la metrología en la Industria 4.0

Ponente: Unai Mutilba – Coordinador de Metrología 4.0, IK4-TEKNIKER
Descargar ponencia

🔹 Plan Estratégico 2016–2019 del CEM

Ponente: José Manuel Bernabé – Director, CEM
Descargar ponencia

🔹 Determinación de la calidad del gas. Sistemas de reconstrucción de estado

Ponente: Susana Ávila – Gerencia de Innovación y Desarrollo, ENAGAS
Descargar ponencia

🔹 Redes de observación de AEMET. Variables medidas y control de calidad de los datos

Ponente: María López – Jefa del Departamento de Infraestructura y Sistemas, AEMET
Descargar ponencia

🔹 El desafío de la medición en dinámico de magnitudes mecánicas

Ponente: Mª Nieves Medina – Jefa del Área de Masa, CEM
Descargar ponencia

🔹 Medidas en continuo en monitorización de estructuras

Ponentes: José Luis Lozano y Silvia Abad – HBM Ibérica
Descargar ponencia

🔹 Ciclo de vida de la medida en el desarrollo de componentes electrónicos para automoción

Ponente: Xavier Secall – Laboratory Manager (Electrical Engineering Europe & Africa), Lear Corporation
Descargar ponencia

Programa del evento

El evento se desarrolló en una jornada completa con el siguiente esquema:
  • Recepción y acreditación
  • Bienvenida institucional – Begoña Cristeto Blasco, Presidenta del CEM
  • Conferencia inauguralIndustry 4.0 y la Metrología, por Unai Mutilba
  • Presentación del Plan Estratégico del CEM – José Manuel Bernabé
  • Mesa redonda y coloquio técnico moderado por José Manuel Prieto Barrio (Ministerio de Industria)
  • Networking y vino español
  • Visita a laboratorios y colección de pesos y medidas

Entidades organizadoras y colaboradoras

Organizan:
Colaboran: